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動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀（D-SIMS）

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動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀（D-SIMS）在材料分析中的用途

動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀（ D-SIMS ）在材料分析中的用途動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀 D-SIMS 是一種材料表面分析技術(shù)，它基于二次離子發(fā)射原理，利用高能離子束轟擊樣品表面，通過(guò)分析產(chǎn)生的二次離子來(lái)獲取材料表面的化學(xué)信息。 D-SIMS 技術(shù)在材料科學(xué)、半導(dǎo)體、薄膜、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用...

2023-12-14

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動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜技術(shù)(D-SIMS)改變表面分析的局限性

動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜技術(shù) (D-SIMS) 改變表面分析的局限性動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜技術(shù) （ Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry ，簡(jiǎn)稱 D-SIMS ）是一種先進(jìn)的表面分析技術(shù)，它通過(guò)對(duì)樣品表面進(jìn)行高能離子轟擊，產(chǎn)生微量的二次離子，并通過(guò)質(zhì)量分析器對(duì)這些二次...

2023-12-14

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一文讀懂D-SIMS

動(dòng)態(tài)-二次離子質(zhì)譜（D-SIMS）用氣體等離子源轟擊樣品,使樣品表面原子、分子或離子等濺射出來(lái)，用質(zhì)量分析器接收濺射出的二次離子，通過(guò)分析其質(zhì)荷比（m/z)獲得二次離子質(zhì)譜。由于D-SIMS的離子源為高密度離子束（原子劑量10 12 ions/cm 2 ）,對(duì)樣品的濺射作用大，故是一種破壞性分析。...

2019-10-25

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